UDC 621.382 : 681.11 L 55 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 14030—92 半导体集成电路时基电路 测试方法的基本原理 General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits 1992-12-18发布 1993-08-01实施 国家技术监督局 发布 中华人民共和国国家标准 半导体集成电路时基电路 测试方法的基本原理 GB/T 14030-92 General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits 本标准规定了半导体集成电路时基电路（以下简称器件或时基电路)电参数测试方法的基本原理。 时基电路与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS 电路测试方法的基本原理》。 1总的要求 1.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。 1.2测试期间，施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定。 1.3测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的 规定。 1.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。 1.5若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源。 1.6测试期间，被测器件应连接器件详细规范规定的外围电路和补偿网络 1.7若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短。 1.8本标准的参数定义按如下规定的真值表给出，如被测器件与本规定不符合时，可对测试电路进行 相应的调整。 引出端名称 值端 触发端 复位端 引出端符号 TH TR RES OUT x x L L 规范 x 1 H H H H H H 表中：L为低电平，H为高电平，X为任意电平。 2参数测试 2.1复位电压Vk 2.1.1目的 在器件输出电压为低电平时，测试复位端施加的临界输入电压。 2.1.2测试原理图 VR测试原理图见图1。 国家技术监督局1992-12-18批准 1993-08-01实施 GB/T 14030--92 电源 RES 被测器件 可调直流 电源 图1 2.1.3测试条件 测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 a。环境温度； b．电源电压。 2.1.4测试程序 2.1.4.1将被测器件接入测试系统中。 2.1.4.2接通电源。 2.1.4.3触发端接地，在复位端接输入电压Vi,调节Vi,使输出电压Vo翻转为低电平时，读取输入电 压Vi值，即为VR。 2.2复位电流Ik 2.2.1目的 在复位电压范围内，测试流经复位端的最大电流。 2.2.2测试原理图 IR测试原理图见图2。 电源 RES 被测器件 可调直流 电源 图 2 2.2.3测试条件 测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 2 GB/T14030--92 a. 环境温度； b. 电源电压； c. 复位电压范围。 2.2.4测试程序 2.2.4.1将被测器件接入测试系统中。 2.2.4.2接通电源。 2.2.4.3 3在复位端输入电压Vi，调节VI在规定的复位端输入电压范围内，读取复位端的最大电流值 即为IR 2.3触发电压VTR 2.3.1目的 在器件输出电压为高电平时，测试触发端施加的临界电压。 2.3.2测试原理图 VTR测试原理图见图3。 电源 RES TH TR 被测器件 可调直流 电源 图 3 2.3.3测试条件 测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 a.环境温度； b．电源电压。 2.3.4测试程序 2.3.4.1将被测器件接入测试系统中。 2.3.4.2接通电源，并将复位端和阐值端接电源电压。 2.3.4.3在触发端输入电压Vi，调节Vr，使输出电压Vo为高电平时，读取输入电压Vi值，即为VTR。 2.4触发电流ITR 2.4.1目的 在触发电压范围内测试流经触发端的最大电流。 2.4.2测试原理图 ITR测试原理图见图4。 3 GB/T 14030---92 电源 被测器件 可调直流 电源 图 4 2.4.3测试条件 测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 a. 环境温度； b. 电源电压； c. 触发电压范围。 2.4.4测试程序 2.4.4.1将被测器件接入测试系统中。 2.4.4.2接通电源， 2.4.4.3调节输入电压Vi，在规定的触发端输入电压范围内，读取触发端的最大电流值，即为ITR。 2.5值电压VT 2.5.1目的 在器件输出电压为低电平时，测试阈值端所施加的临界电压。 2.5.2测试原理图 V测试原理图见图5。 电源 RES TH 被测器件 TR 可调直流 电源 图5 2.5.3测试条件 测试期间：下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 GB/T14030-92 a.环境温度； b.．电源电压。 2.5.4测试程序 2.5.4.1将被测器件接入测试系统中。 2.5.4.2接通电源，复位端接电源电压。 2.5.4.3在阈值端输入电压V.,调节V，使V足够低，并撤动开关K，触发端接地，使输出电压Vo为 高电平。 2.5.4.4调节输入电压Vr，使输出电压Vo翻转为低电平，读取输入电压Vi值，即为V。 2.6阅值电流1T 2.6.1目的 在阐值电压范围内，测试流经阙值端的最大电流。 2.6.2测试原理图 ITH测试原理图见图6。 电源 被测器件 可调直流 电源 图 6 2.6.3测试条件 测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 a. 环境温度； b．电源电压； c. 阈值电压范围。 2.6.4测试程序 2.6.4.1将被测器件接入测试系统中。 2.6.4.2接通电源。 2.6.4.3在阈值端输入电压Vi,调节输入电压Vi,在规定的阈值端输入电压范围内，读取阈值端的最 大电流值，即为IT。 2.7控制端电压Vc 2.7.1目的 测试器件控制端的电压。 2.7.2测试原理图 Vc测试原理图见图7。 5 GB/T 14030---92 电源 被测器件 图7 2.7.3测试条件 测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 a.环境温度； b．电源电压。 2.7.4测试程序 2.7.4.1将被测器件接入测试系统中。 2.7.4.2接通电源。 2.7.4.3在控制端读取Vc值。 2.8静态电源电流1+ 2.8.1目的 测试输出端空载条件下电源流过器件的电流。 2.8.2测试原理图 1测试原理图见图8。 电源 RES TH TR 被测器件 可调直流 电源 图 8 2.8.3测试条件 测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 6